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BE-CF200系列半导体分立器件高低温参数测试系统
    发布时间: 2021-05-02 23:11    

将半导体分立器件,如三极管,MOS场效应管,IGBT等置于高低温试验箱内,根据要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内,并在对应的温度下测试压力传感器产品的电性能指标。

BE-CF200系列半导体分立器件高低温参数测试系统

设备简介:

将半导体分立器件,如三极管,MOS场效应管,IGBT等置于高低温试验箱内,根据要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内,并在对应的温度下测试压力传感器产品的电性能指标。

主要特点:

  • 显示屏幕采用进口温湿度控制仪,P.I.D高精度控制,运行稳定,显示直观。

  • 显示分辨率:温度:0.1℃(显示范围),时间:0.1min

  • 感温传感器:PT100铂金电阻测温体

  • 控制方式:热平衡调温协调控制,具有自动演算的功能,更为精确稳定。

  • 温度稳定度,标准指标为≤1℃或±0.5℃。

  • 温度范围:0℃~150℃、-20℃~150℃、-40℃~150℃、-60℃~150℃、-70℃~150℃

  • 先进之能源节约设计,省电30%且采用不伤人体与大自然之HFC环保冷媒。


注:可根据用户使用条件定制需要的规格,有关技术指标请索取产品详细说明。